EDTCD－2004局部放電測試儀是我廠研制開發(fā)生產(chǎn)的一種新型儀器。它基本上保持了原有局部放電檢測儀的優(yōu)點(diǎn)和功能，并致力于縮小儀器體積、重量、使之成為名符其實(shí)的攜帶式儀器。該儀器是根據(jù)IEC(270)標(biāo)準(zhǔn)，利用脈沖電流法原理研制而成，并滿足DL/T846.4-2004、GB-7354-2004、GB-1207-97、GB－1208－97中關(guān)于局部放電測試對測試儀器規(guī)定的技術(shù)要求
主要特點(diǎn)
該儀器具有靈敏度高、放大器系統(tǒng)動態(tài)范圍大、測試的試品范圍廣、操作簡便等優(yōu)點(diǎn)。并采用的抗干擾組件和特的門顯示電路，抗干擾能力強(qiáng)，并具有四種橢圓掃描，適用于高壓產(chǎn)品的型式、出廠試驗(yàn)，新產(chǎn)品研制試驗(yàn)，電機(jī)、互感器、電纜、套管、電容器、變壓器、避雷器、開關(guān)及其它高壓電器局部放電的定量測試。可供制造廠、科研部門、電力部門現(xiàn)場使用。

每個(gè)通道的輸入信號立的經(jīng)過前級低通濾除部分低頻信號，再經(jīng)過衰減或放大處理，然后經(jīng)過細(xì)調(diào)增益控制，經(jīng)過更精密一級的高低通濾波，進(jìn)一步篩選出放電信號，經(jīng)過高速寬頻帶12位AD轉(zhuǎn)換器進(jìn)行模數(shù)轉(zhuǎn)換，得到的數(shù)據(jù)經(jīng)過FPGA存儲在緩存SDRAM中，再由FPGA通過USB（或以太網(wǎng)）上傳給PC機(jī)或工控主機(jī)系統(tǒng)進(jìn)行顯示。
試驗(yàn)電壓信號經(jīng)過電壓互感器隔離變換成小信號，小信號分兩路：一路經(jīng)過調(diào)理得到試驗(yàn)電壓的外零標(biāo)信號，另一路經(jīng)過有效值轉(zhuǎn)換和A/D轉(zhuǎn)換得到試驗(yàn)電壓數(shù)據(jù)。該數(shù)據(jù)由FPGA送給PC機(jī)或工控主機(jī)系統(tǒng)進(jìn)行顯示。

零標(biāo)輸入單元作為局部放電檢測系統(tǒng)的相位基準(zhǔn)，對識別局部放電和干擾有重要作用，本儀器系統(tǒng)內(nèi)置內(nèi)零標(biāo)單元和外零標(biāo)輸入單元。外零標(biāo)輸入時(shí)，系統(tǒng)的相位可以和外零標(biāo)輸入嚴(yán)格同步，且無頻率間隔要求，故可以和無局放串聯(lián)諧振電源相配合，外零標(biāo)的輸入范圍為：交流10∽380V，30Hz∽300Hz。
在實(shí)際試驗(yàn)中，可以將試驗(yàn)電源電壓經(jīng)分壓器降至10∽380V再接入零標(biāo)單元。如果在屏幕上輸入分壓器的變比，可以直接測量出試驗(yàn)電源電壓。例如，電容分壓器變比是500：1，則選擇變比為500。
如果試驗(yàn)電源和儀器電源同相或試驗(yàn)電源和工頻嚴(yán)格同步，可使用儀器內(nèi)零標(biāo)。
一般，當(dāng)沒有外零標(biāo)輸入信號時(shí)，儀器自動選擇內(nèi)零標(biāo)作為本系統(tǒng)的相位基準(zhǔn)。如果試驗(yàn)電源和儀器電源相位不同，必須對其相位進(jìn)行校正后才可測量。

主要技術(shù)指標(biāo)
測量通道：立2/4通道
檢測靈敏度：0.1pC
采樣精度：12位
采樣速率：12.5M/s
測量范圍：0.5pC～1μC
量程線性度誤差：±(5%+1Pc)
量程切換：×1、×10、×100、×1000
試品電容量范圍：6pF～250μF
測量頻帶：10kHz～1MHz
程控濾波：
低端頻率：20kHz，40kHz，60kHz，80kHz
頻率：100kHz，200kHz，300kHz，400kHz
數(shù)字濾波：頻點(diǎn)0～7個(gè)可選
試驗(yàn)電源頻率：30～300Hz
工作環(huán)境：環(huán)境溫度：-10～45℃ 相對濕度：≤95%RH
電源： AC220V；頻率50Hz
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